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SS1-STD3 SunScan冠层分析仪

SS1-STD3 SunScan冠层分析系统是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射(PAR)的系统,提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI)。
  • 详细介绍

一、介绍:SS1-STD3 SunScan冠层分析系统是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射(PAR)的系统,提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI)。本系统不需要等待特殊的天气条件进行使用,可以在大多数光照条件下进行测量工作(但是建议是在接近中午的时候)。

图片13

 

二、技术规格:

Sunscan传感器

探测区域:长1米×宽13毫米,传感器间距15.6毫米

光谱范围:400~700nm(PAR)

测量时间:120毫秒

最大读数:2500:μmol.m-2.s-1

分辨率:0.3:μmol.:m-2.s-1

线性:优于1%

精度:±10%

模拟输出:1mV/μmol.:m-2.s-1

通讯端口:RS232,9针D型接口

防护等级:IP65

工作温度:0~60℃

尺寸:1300×100×130毫米

重量:1.7公斤

供电:4节AA碱性电池,最大可以使用1年

掌上数据管理器

显示屏:1/4VGA防日光显示屏

操作系统:WindowsM obile 6

显示选项:叶面积指数(LAI)、平均光合有效辐射、单个传感器的读数

 

防护等级:IP67

工作温度:-30~+60℃

跌落高度:1.2米

供电:可充电电池,可连续使用12小时

内存:>100MB可用

尺寸规格:165×95×45毫米

重量:450克

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